NB/T 47013.11-2015 《承壓設(shè)備無損檢測(cè) 第11部分：X射線數(shù)字成像檢測(cè)》 第1號(hào)修改單

XinZeSteeL

本修改單經(jīng)國(guó)家能源局于2018年5月14日以第7號(hào)公告批準(zhǔn)，自2018年7月1日起實(shí)施。

① 第2章“GB/T 23903 射線圖像分辨力測(cè)試計(jì)”后補(bǔ)充新條文：

“GB/T 26592 無損檢測(cè)儀器 工業(yè)X射線探傷機(jī)性能測(cè)試方法

GB/T 26594 無損檢測(cè)儀器 工業(yè)用X射線管性能測(cè)試方法”

  第2章“NB/T47013.2 承壓設(shè)備無損檢測(cè) 第2部分：射線檢測(cè)”后補(bǔ)充新條文：

  “JB/T 11608 無損檢測(cè)儀器 工業(yè)用X射線探傷裝置”

② 4.1.1條中更改用語(yǔ)：

“并取得《放射工作人員證》”更改為“并按照有關(guān)法規(guī)的要求取得相應(yīng)證書”。

③ 4.2條中更改用語(yǔ)：

“檢測(cè)系統(tǒng)”更改為“檢測(cè)系統(tǒng)與器材”。

④ 4.2.1.2條后補(bǔ)充新條文，4.2.1.3 ：

“采用的X射線機(jī)，其性能指標(biāo)應(yīng)滿足JB/T11608的規(guī)定，使用性能測(cè)試條件及測(cè)試方法參考GB/T26594 和GB/T26592的規(guī)定。”

⑤ 4.2.2.4 條改用新條文：

4.2.2.4“壞像素要求：面陣列探測(cè)器3×3像素區(qū)域中，相鄰壞像素不得超過3個(gè)；成行（成列）壞像素不得超過3個(gè)，且不得位于距離中心位置200像素以內(nèi)；成像區(qū)域內(nèi)壞像素不超過總像素的1%。線陣列探測(cè)器中，相鄰的壞像素不允許超過2個(gè)。探測(cè)器系統(tǒng)供應(yīng)商應(yīng)提供出廠壞像素表和壞像素校正方法?！?/font>

⑥ 在4.2.2.5后補(bǔ)充新條文，4.2.2.6和4.2.2.7：

“4.2.2.6探測(cè)器系統(tǒng)性能指標(biāo)如：壞像素、對(duì)比靈敏度、分辨率、信噪比、線性范圍、厚度寬容度、殘影等，其測(cè)試條件及測(cè)試方法按相應(yīng)國(guó)家或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定執(zhí)行?！?/font>

“4.2.2.7探測(cè)器系統(tǒng)質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給出探測(cè)器類型、轉(zhuǎn)換屏參數(shù)（如有）、像素尺寸、成像面積、射線能量適用范圍、量子轉(zhuǎn)換效率、填充因子、采集幀頻等技術(shù)參數(shù)。”

⑦ 4.2.4.6條中更改用語(yǔ)：

“根據(jù)評(píng)定結(jié)果”更改為“自動(dòng)”。

① 4.2.6條改用新條文：

4.2.6 “像質(zhì)計(jì)

4.2.6.1本部分采用的像質(zhì)計(jì)包括線型像質(zhì)計(jì)和雙線型像質(zhì)計(jì)。

4.2.6.2線型像質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合GB/T 23901.1的規(guī)定，雙線型像質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合GB/T 23901.5的規(guī)定?！?/font>

② 4.2.6條后補(bǔ)充新條文，4.2.7、4.2.8：

“4.2.7檢測(cè)系統(tǒng)使用性能

應(yīng)結(jié)合被檢工件和本部分要求，根據(jù)檢測(cè)系統(tǒng)各部分性能指標(biāo)選擇合適的檢測(cè)設(shè)備和器材，并提供滿足上述設(shè)備和器材性能指標(biāo)及系統(tǒng)軟件功能的測(cè)試證明文件。檢測(cè)系統(tǒng)的使用性能應(yīng)滿足本部分規(guī)定的圖像質(zhì)量要求。”

“4.2.8校準(zhǔn)或運(yùn)行核查

4.2.8.1  每年至少對(duì)探測(cè)器系統(tǒng)性能中的壞像素、線性范圍、信噪比、厚度寬容度、殘影等進(jìn)行1次校準(zhǔn)并記錄。

4.2.8.2  每年至少應(yīng)對(duì)使用中的曝光曲線進(jìn)行1次核查。當(dāng)射線機(jī)重要部件更換或經(jīng)過修理后，應(yīng)重新制作曝光曲線。

4.2.8.3  每3個(gè)月至少對(duì)探測(cè)器壞像素進(jìn)行1次核查，并記錄和校正。

4.2.8.4  存在如下情況應(yīng)進(jìn)行系統(tǒng)分辨率核查并記錄，核查方法按附錄A執(zhí)行。

a）檢測(cè)系統(tǒng)有改變時(shí)；

b）正常使用條件下，每3個(gè)月應(yīng)至少核查一次；

c）在系統(tǒng)停止使用一個(gè)月后重新使用時(shí)。”

③ 5.4.1.2條后補(bǔ)充新條文，5.4.1.3：

“由于結(jié)構(gòu)原因不能按照5.4.1.1或5.4.1.2規(guī)定的間隔角度進(jìn)行多次透照時(shí)，經(jīng)合同雙方商定，可不再?gòu)?qiáng)制限制5.4.1.1或5.4.1.2規(guī)定的間隔角度，但應(yīng)采取有效措施盡量擴(kuò)大缺陷可檢出范圍，并保證圖像評(píng)定范圍內(nèi)信噪比、靈敏度和分辨率滿足要求，并在檢測(cè)報(bào)告中對(duì)有關(guān)情況進(jìn)行說明?！?/font>

11 5.4.2條改用新條文：

5.4.2“不要求100%檢測(cè)的小徑管環(huán)向焊接接頭的透照次數(shù)由合同雙方商定，并保存相關(guān)記錄。

12 將6.1.1.3條中的“線型像質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合GB/T 23901.1的規(guī)定”刪除。

13 將6.1.1.4條中的“雙線型像質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合GB/T 23901.5的規(guī)定”刪除。

14 6.1.2.1.2條中更改用語(yǔ)：

“雙壁單影透照時(shí)”更改為“雙壁單影或雙壁雙影透照時(shí)”

15 6.1.3.1條改用新條文：

6.1.3.1“雙線型像質(zhì)計(jì)應(yīng)放在射線機(jī)側(cè)。當(dāng)采用雙壁單影透照方式時(shí)，可放在探測(cè)器側(cè)。”

16 6.1.3.2.1條中更改用語(yǔ)：

“被檢測(cè)區(qū)長(zhǎng)度的1/4左右位置”更改為“靠近被檢焊縫”。

17 在6.1.4.2條句尾補(bǔ)充“對(duì)于小徑管雙壁雙影透照方式，透照厚度應(yīng)取管子直徑?！?/font>

18 在6.1.4.3條句尾補(bǔ)充:

“注：對(duì)于使用裂紋敏感性材料或標(biāo)準(zhǔn)抗拉強(qiáng)度下限值Rｍ≥540MPa高強(qiáng)度材料進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，不得采取補(bǔ)償。”

19 6.2.5.2條第一行中更改用語(yǔ)：

“透照規(guī)格”更改為“透照參數(shù)”。

20 在A.5.1 a）條句尾補(bǔ)充：

“在條件受限情況下，可適當(dāng)減小F，但應(yīng)保證檢測(cè)系統(tǒng)的幾何不清晰度不大于探測(cè)器像素尺寸的5%。”

21 在A.5.2后補(bǔ)充新條文，A.6：

“系統(tǒng)分辨率應(yīng)滿足表4或表5的要求，用于小徑管雙壁雙影透照方式檢測(cè)時(shí)，表中透照厚度應(yīng)取2倍管子壁厚?！?/font>

22 D.1中第5行中更改用語(yǔ)：

“P—探測(cè)器像素大?。é蘭）”更改為：“P—分辨力（μm）；

注：測(cè)量系統(tǒng)歸一化信噪比時(shí)，P為系統(tǒng)分辨力；測(cè)量圖像歸一化信噪比時(shí)，P為圖像分辨力”。

23 D.2條改用新條文：

D.2“信噪比測(cè)量是指在均勻區(qū)域（圖像信噪比指熱影響區(qū)或焊縫附近的母材、無缺陷處），取面積不小于20像素×55像素的矩形區(qū)，計(jì)算此區(qū)域的均值和標(biāo)準(zhǔn)差，按照信噪比定義得到測(cè)量信噪比SNRm。”